堀場製作所は,ナノ物質の量や大きさ,その表面の電荷を計測する「ナノ粒子解析装置nanoPartica SZ-100V2」シリーズを2018年10月上旬から発売開始する。
同製品は,先端技術の研究所で用いられる濃度の薄い試料や,従来では測定が困難だった散乱光強度が弱い粒子も高精度に安定して計測することが可能。ナノマテリアルやバイオ・テクノロジー分野の技術開発から,セラミックスや金属などの生産現場のニーズまで応える。
ハイパワーレーザー(100mW)を搭載し,光学系レイアウトを改良することで,測定レンジを向上(0.3nm〜10,000nm),測定感度が従来機と比べ約15倍。また,レーザー光源の波長やオプションによるカスタマイズを充実させることで,さまざまな分野における研究開発・品質管理の効率化や高分解能が必要な研究にも対応可能となった。(’18 9/19)
「第23回評価・診断に関するシンポジウム」が開催される
2025年12月4日(木)~5日(金),「第23回評価・診断に関するシンポジウム」(組織委員長:川合 忠雄 氏(大阪公立大学),実行委員長:本田 知己 氏(福井大学))を福井大学(福井県福井市)で開催した。








