2018年9月19日

ブルカージャパン,10月にAFM表面計測・解析技術セミナーを開催

アーステック
ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は,AFM表面計測・解析技術セミナー「AFMスペクトロスコピーが切り拓く名の分析技術~最も進んだナノ分光分析と多次元電気特性評価~」を2018年10月10日(水)に大阪,10月12日(金)に東京で開催する。 同セミナーでは,講演者を招いての特別講演や,同社の最新表面計測関連製品の紹介,実機デモンストレーションなどが行われる。概要・申込み方法は以下の通り。 http://www.bruker-nano.jp/eventinfo#ttl-AFMseminar2018 <大阪会場>
  • 開催日時:2018年10月10日(水) 10:00~17:30(9:30受付開始)
  • 開催場所:ブリーゼプラザ 803号室(大阪市北区)
  • 定員:50名
  • 参加費:無料(事前登録制)
  • 申し込み先:
      • WEB登録サイトから http://bit.ly/2owSM9v
      • メールから info-nano.bns.jp@bruker.com ※メールでの申込みの場合,タイトルに「10/10AFMセミナー大阪申し込み」と明記し下記項目を記入。 勤務先名,所属部署,氏名,メールアドレス,住所,TEL
      • 申し込み用紙から PDFをダウンロード
  • プログラム
      • 「ナノスケールIR分光法の進歩~nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション~」 Curtis A. Marcott 氏(Bruker 米国 サイエンティスト)
      • 「多次元電気特性評価 DataCube+NanoelectricalLabについて」 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
      • 特別講演1「ナノカーボン物質の表面で起こる多様な現象の科学とその応用展開」 宮内 雄平 氏(京都大学/名古屋大学/JST-ERATO 伊丹分子ナノカーボンプロジェクト)
      • 特別講演2「パワーデバイス用ワイドギャップ半導体の開発動向-SiCを中心として―」 大谷 昇 氏(関西学院大学)
      • 「ブルカー最新表面計測関連製品のご紹介」 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
      • 装置測定方法の紹介
<東京会場>
  • 開催日時:2018年10月12日(金) 10:00~17:30(9:30受付開始)
  • 開催場所:ハロー会議室茅場町(東京都中央区)
  • 定員:60名
  • 参加費:無料(事前登録制)
  • 申し込み先:
      • WEB登録サイトから http://bit.ly/2owSM9v
      • メールから info-nano.bns.jp@bruker.com ※メールでの申込みの場合,タイトルに「10/12AFMセミナー東京申し込み」と明記し下記項目を記入。 勤務先名,所属部署,氏名,メールアドレス,住所,TEL
      • 申し込み用紙から PDFをダウンロード
  • プログラム
      • 「ナノスケールIR分光法の進歩~nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション~」 Curtis A. Marcott 氏(Bruker 米国 サイエンティスト)
      • 「多次元電気特性評価 DataCube+NanoelectricalLabについて」 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
      • 特別講演「走査プローブ技術を利用した,材料・デバイスのナノ物性・実環境プロセス計測」 井藤 浩志 氏(産業技術総合研究所)
      • 「ブルカー最新表面計測関連製品のご紹介」 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
      • 実機デモンストレーション  (’18 9/19)

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