ブルカージャパン，10月にAFM表面計測・解析技術セミナーを開催

ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は，AFM表面計測・解析技術セミナー「AFMスペクトロスコピーが切り拓く名の分析技術～最も進んだナノ分光分析と多次元電気特性評価～」を2018年10月10日（水）に大阪，10月12日（金）に東京で開催する。 同セミナーでは，講演者を招いての特別講演や，同社の最新表面計測関連製品の紹介，実機デモンストレーションなどが行われる。概要・申込み方法は以下の通り。 http://www.bruker-nano.jp/eventinfo#ttl-AFMseminar2018 ＜大阪会場＞

• 開催日時：2018年10月10日（水）　10：00～17：30（9：30受付開始）
• 開催場所：ブリーゼプラザ　803号室（大阪市北区）
• 定員：50名
• 参加費：無料（事前登録制）
• 申し込み先：
  • WEB登録サイトから　http://bit.ly/2owSM9v
  • メールから　info-nano.bns.jp@bruker.com ※メールでの申込みの場合，タイトルに「10/10AFMセミナー大阪申し込み」と明記し下記項目を記入。 勤務先名，所属部署，氏名，メールアドレス，住所，TEL
  • 申し込み用紙から　PDFをダウンロード
• プログラム
  • 「ナノスケールIR分光法の進歩～nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション～」　Curtis A. Marcott 氏（Bruker 米国 サイエンティスト）
  • 「多次元電気特性評価 DataCube＋NanoelectricalLabについて」　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
  • 特別講演1「ナノカーボン物質の表面で起こる多様な現象の科学とその応用展開」　宮内 雄平 氏（京都大学／名古屋大学／JST-ERATO 伊丹分子ナノカーボンプロジェクト）
  • 特別講演2「パワーデバイス用ワイドギャップ半導体の開発動向－SiCを中心として―」　大谷 昇 氏（関西学院大学）
  • 「ブルカー最新表面計測関連製品のご紹介」　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
  • 装置測定方法の紹介

＜東京会場＞

• 開催日時：2018年10月12日（金）　10：00～17：30（9：30受付開始）
• 開催場所：ハロー会議室茅場町（東京都中央区）
• 定員：60名
• 参加費：無料（事前登録制）
• 申し込み先：
  • WEB登録サイトから　http://bit.ly/2owSM9v
  • メールから　info-nano.bns.jp@bruker.com ※メールでの申込みの場合，タイトルに「10/12AFMセミナー東京申し込み」と明記し下記項目を記入。 勤務先名，所属部署，氏名，メールアドレス，住所，TEL
  • 申し込み用紙から　PDFをダウンロード
• プログラム
  • 「ナノスケールIR分光法の進歩～nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション～」　Curtis A. Marcott 氏（Bruker 米国 サイエンティスト）
  • 「多次元電気特性評価 DataCube＋NanoelectricalLabについて」　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
  • 特別講演「走査プローブ技術を利用した，材料・デバイスのナノ物性・実環境プロセス計測」　井藤 浩志 氏（産業技術総合研究所）
  • 「ブルカー最新表面計測関連製品のご紹介」　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
  • 実機デモンストレーション　　（’18 9/19）