スペクトリス パナリティカル事業部は，石油製品向けに特化した蛍光X線分析（XRF）用の認証標準サンプルセット新シリーズを発表した。この標準サンプルセットは，VHG Labs社がパナリティカル製品向けに特別開発したものである。各セットは，校正のセットアップに必要なすべてを備えた校正ソリューションを提供，品質保証のためのパフォーマンステストを迅速に実施できる。ISO規格やJIS規格などの法規制遵守に威力を発揮する。標準サンプルは，パナリティカルのXRFシステム用として設計されているが，ほとんどのXRF機器で使用できる。（’08 7/2）
「第22回評価・診断に関するシンポジウム」が開催される
2024年12月2日（月）～3日（火）の2日間，日本機械学会 機械力学・計測制御部門は，日本設備管理学会，日本トライボロジー学会との共催で「第22回評価・診断に関するシンポジウム」（組織委員長：川合 忠雄 氏（大阪公立大学），実行委員長：金森 啓祐 氏（三井化学））をアプラたかいし（大阪府高石市）で開催した。
