スペクトリスPANalytical事業部は，化合物半導体エピタキシャル薄膜解析用XRDとX線反射率解析用XRRの2種類のソフトウェアを発表した。XRDの新バージョン4.2はパナリティカルのX’Pert PRO MRD，及び初期の高分解能X線回折装置と組み合わせて，半導体エピタキシャル層を更に精密，自動に解析することが可能になる。これにより，GaN系をはじめとする化合物半導体の開発，製造プロセスの最適化，自動化に大きく貢献する。XRRの新バージョン1.2は複数パラメータの最適化，フィッティングの自動化により，高度かつ簡便にパラメータを求めることが可能になった。これにより，半導体薄膜，磁性薄膜，表示デバイス系の材料開発，製造プロセスにて，膜圧，ラフネス，密度パラメータの標準化への活用が可能となる。（’07 8/29）
「JIMTOF2026」，10/26～31東京ビッグサイトで開催
2026年10月26日（月）～10月31日（土）の6日間，東京ビッグサイト（東京都江東区）で世界最大級の工作機械見本市｢JIMTOF2026（第33回 日本国際工作機械見本市）｣（主催：日本工作機械工業会／東京ビッグサイト）が開催される。
