スペクトリスPANalytical事業部は，化合物半導体エピタキシャル薄膜解析用XRDとX線反射率解析用XRRの2種類のソフトウェアを発表した。XRDの新バージョン4.2はパナリティカルのX’Pert PRO MRD，及び初期の高分解能X線回折装置と組み合わせて，半導体エピタキシャル層を更に精密，自動に解析することが可能になる。これにより，GaN系をはじめとする化合物半導体の開発，製造プロセスの最適化，自動化に大きく貢献する。XRRの新バージョン1.2は複数パラメータの最適化，フィッティングの自動化により，高度かつ簡便にパラメータを求めることが可能になった。これにより，半導体薄膜，磁性薄膜，表示デバイス系の材料開発，製造プロセスにて，膜圧，ラフネス，密度パラメータの標準化への活用が可能となる。（’07 8/29）
「トライボロジー会議2026 春 東京」開催される
日本トライボロジー学会（JAST）は2026年5月25日（月）～27日（水）の3日間，国立オリンピック記念青少年総合センター（東京都渋谷区）で「トライボロジー会議2026 春 東京」（実行委員長：松本 康司 氏，宇宙航空研究開発機構（JAXA））を開催，3日間で約180件の各種トライボロジーに関する講演・発表が行われ，約1,000名が参加した。
