アントンパール・ジャパン，技術セミナーを9月28日に開催

アントンパール・ジャパンは，2018年9月28日（金）に同社東京オフィスセミナールーム（東京都墨田区）にて技術セミナー「ガス吸着法による最新の細孔構造分析手法」と「レーザー回折および光散乱による粒子特性評価手法」を開催する。
同セミナーでは，細孔構造分析と粒度分布，ゼータ電位測定による物性分析の手法を座学を通し，その原理と応用について紹介する。セミナー概要，申込方法は以下の通り。

• 日時：2018年9月28日（金）　13：30～17：30　受付は13：00開始予定
• 場所：アントンパール・ジャパン　東京オフィス内　セミナールーム（東京都墨田区）
• 参加料：無料
• プログラム
  1.「ガス吸着法による最新の細孔構造分析手法」　森本 昌文 氏
  2.「レーザー回折及び光散乱法による粒子特性評価の紹介」　中野 祐樹 氏
  3.実機見学
• 申込み方法：以下を明記の上，miharu.isaka［at］anton-paar.comまで
  • 社名
  • 氏名
  • E-mail
  • 住所
  • 電話番号
• 申込締切：2018年9月18日（火）　※先着順
• 技術セミナーの詳細はこちら（アントンパール・ジャパンWebサイト）