アントンパール・ジャパンは，2018年9月28日（金）に同社東京オフィスセミナールーム（東京都墨田区）にて技術セミナー「ガス吸着法による最新の細孔構造分析手法」と「レーザー回折および光散乱による粒子特性評価手法」を開催する。
同セミナーでは，細孔構造分析と粒度分布，ゼータ電位測定による物性分析の手法を座学を通し，その原理と応用について紹介する。セミナー概要，申込方法は以下の通り。
同セミナーでは，細孔構造分析と粒度分布，ゼータ電位測定による物性分析の手法を座学を通し，その原理と応用について紹介する。セミナー概要，申込方法は以下の通り。
- 日時：2018年9月28日（金） 13：30～17：30 受付は13：00開始予定
- 場所：アントンパール・ジャパン 東京オフィス内 セミナールーム（東京都墨田区）
- 参加料：無料
- プログラム
1.「ガス吸着法による最新の細孔構造分析手法」 森本 昌文 氏
2.「レーザー回折及び光散乱法による粒子特性評価の紹介」 中野 祐樹 氏
3.実機見学 - 申込み方法：以下を明記の上，miharu.isaka［at］anton-paar.comまで
- 社名
- 氏名
- 住所
- 電話番号
- 申込締切：2018年9月18日（火） ※先着順
- 技術セミナーの詳細はこちら（アントンパール・ジャパンWebサイト）
